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设备其分析方法,是具有一定能量分辨率的X射线探测器同时探测样品所发出的各种能量特征X射线,探测器输出信号幅度与接收到的X射线能量成正比,利用能谱仪分析探测器输出信号的能量大小及强度,对样品进行定量,定性分析。
技术参数
分析范围: 1%~99.99%
测量时间: 自适应
测量精度: ±1000ppm~0.2%
X射线源:Mo靶的X射线光管
风冷(无辐射)
集成工业计算机,无需外接电脑
探测器:固定式半导体封气正比计数器 
高压器:0~50Kv
分析:多通道模拟
软件:菜单式软件,带硬件参数调整和数据评估及计算
镀层测量:镀层厚度范围<30um
温度:-11~46℃
电压:100~127V或220~240V,50/60Hz
最大功率:128W
重量:33公斤
尺寸:670*400*330mm
操作系统: Windows2000/Me/XP

此设备主要优势:
1 ) 3秒钟内可对金银饰品进行定性识别,30秒~60秒自动计算出首饰的精确含量
2 ) 对样品无需任何物理和化学处理,即无损检测金银饰品
3 ) 分析范围:能够分析金,铂,银,钯等含量1%~99.99%
4 ) 分析准确度:平均精确度可达是万分之一

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